可測試性設(shè)計DFT

可測性設(shè)計（DFT）是適應(yīng)集成電路的發(fā)展的測試需求所出現(xiàn)的一種技術(shù)，主要任務(wù)是設(shè)計特定的測試電路，同時對被測試電路的結(jié)構(gòu)進(jìn)行調(diào)整，提高電路的可測性，即可控制性和可觀察性。

1、可控性：指的是是否可以從電路的初級輸入控制內(nèi)部引線邏輯狀態(tài)。一條鏈路可以通過電路的初級輸入端（PI）控制其狀態(tài)，則這條鏈路稱是可控制的，否則就是不可控制，見下圖，二輸入與門有兩個輸入端A和B，如果A直接接地，B是網(wǎng)絡(luò)EC的輸出信號。在這個電路中，無論初級輸入端PI的值是什么，與門的輸出端C始終為0，不可能為1，則C是1不可控的。

2、可觀察性：指的是是否可以從電路的初級輸出端或其他特殊的測試點(diǎn)觀察電路內(nèi)部引線邏輯狀態(tài)。內(nèi)部引線A的值可以通過某種方式傳播到PO，在上圖中，由于C的值始終為0，并且是由于A的值為0所致。因此在C位置就不能判斷B點(diǎn)的邏輯值究竟是什么。假如C是電路唯一的PO，則內(nèi)部引線B就是不可觀察的。

按測試結(jié)構(gòu)分，DFT目前比較成熟的技術(shù)主要有掃描設(shè)計（ATPG）、內(nèi)建自測試（BIST）、邊界掃描設(shè)計（BSCAN）等。其中ATPG用于測試芯片的數(shù)字邏輯電路，BIST多用于測試芯片的片上內(nèi)存，BSCAN用于測試芯片的IO端口。